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    薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測定儀

    更新時間:2025-06-05

    瀏覽次數(shù):2288

    簡要描述:

    薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測定儀PY-H609挺度儀是由深圳市普云電子有限公司出品的一款主要用于測量各類工業(yè)塑料片材、工業(yè)薄膜、絕緣材料、工藝薄膜、光電薄膜、半導(dǎo)體工藝薄膜、硬質(zhì)涂層薄膜、造紙包裝等復(fù)合新材料的彎曲彈性模量-挺度反復(fù)試驗(yàn)的測試儀器,又叫材料彎曲挺度測試儀,薄膜挺度儀,材料抗彎曲試驗(yàn)機(jī)等等。

    薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測定儀

    薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測定儀PY-H609挺度儀是由深圳市普云電子有限公司出品的一款主要用于測量各類工業(yè)塑料片材、工業(yè)薄膜、絕緣材料、工藝薄膜、光電薄膜、半導(dǎo)體工藝薄膜、硬質(zhì)涂層薄膜、造紙包裝等復(fù)合新材料的彎曲彈性模量-挺度反復(fù)試驗(yàn)的測試儀器,又叫材料彎曲挺度測試儀,薄膜挺度儀,材料抗彎曲試驗(yàn)機(jī)等等,是工業(yè)新材料研發(fā)生產(chǎn)以及相關(guān)科研機(jī)構(gòu)和質(zhì)檢部門常用檢測設(shè)備。


    標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

    GB/T2679·3 《紙和紙板挺度的測定》;

    GB/T23144 《紙和紙板靜態(tài)彎曲挺度的測定通用原理》;

    ISO5628 《紙和紙板—靜態(tài)彎曲挺度測定一般原理》;

    ISO2493 《紙和紙板—彎曲挺度的測定》。



    技術(shù)參數(shù)

    1、測試間距 :1-50mm可調(diào)

    (可選擇夾持距離:1mm,5mm,10mm,15mm,20mm,25mm,30mm,40mm,50mm

    2、跨距精度 :±0.1mm

    3、測量范圍 :0~2000mN可選配

    4、傳感器 :傳感精準(zhǔn)度±0.1%

    5、分辨力 :0.01mN

    6、彎曲角度 :1~90o無極可調(diào)

    7、多功能測量 :挺度/折痕挺度雙系統(tǒng)

    8、角速度控制 :0.5~5°/sec可調(diào)

    9、角度精度 :±0.1°

    10、測量厚度 :0.01~5.0mm

    11、彎曲時間 :0~50s

    12、操作界面 :7inch觸摸屏或按鈕測試

    13、信號輸出 :標(biāo)準(zhǔn)電腦信號輸出,鏈接電腦(選配)

    14、打印輸出 :模塊式一體熱敏打印機(jī)

    15、外形尺寸 :300mm*300mm*320mm

    16、凈重 :20kg

    17、電源:220v/50Hz

    18、型號:PY-H609材料彎曲挺度測定儀

    19、廠家:深圳市普云電子有限公司


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    薄膜材料應(yīng)力彈性模量和抗彎曲強(qiáng)挺度測定儀PY-H609挺度儀基本應(yīng)用:

    1、塑料薄片:適用于各種石墨片材,光學(xué)膜片、無紡布、復(fù)合片狀材料硬挺度測試;

    2、硬挺度測試:適用于線材、塑料、紙張、紙板、薄膜等薄片材料硬挺度測試;

    3、導(dǎo)電新材料:光學(xué)膜片、金屬薄片、導(dǎo)光板、擴(kuò)散板、電視背景板硬挺度測試;



    拓展應(yīng)用:

    1、工業(yè)線材:適用于各種纖維線材、電源線、金屬排線硬挺度測試;

    2、紙張紙板:適用于各種紙張、紙板、紙盒彎曲硬挺度測試;

    3、彎曲挺度測試:適用于紙張、紙板、薄膜、塑料薄片、纖維織布、工業(yè)線材、導(dǎo)電新材料彎曲挺度測試;

    4、折痕挺度測試:適用于各種彩盒、牙膏盒等包裝盒折痕壓痕挺度測試;




    材料彎曲性能測定儀用于測定工業(yè)塑料纖維板材彎曲挺度測試、導(dǎo)電光學(xué)納米新材料的硬挺度和回彈性能測試,可根據(jù)試驗(yàn)要求設(shè)定試樣縱橫向、張力大小、測試速度以及彎曲角度。



    網(wǎng)摘:

    薄膜應(yīng)力的研究進(jìn)程薄膜應(yīng)力是沿截面厚度均勻分布的應(yīng)力成分,國內(nèi)外對薄膜應(yīng)力的研究有相當(dāng)長的歷史,自從18世紀(jì)發(fā)現(xiàn)電鍍薄膜中具有應(yīng)力,然后有相關(guān)學(xué)者在金屬基片的變形中測量出了薄膜的內(nèi)應(yīng)力,建立薄膜基片系統(tǒng)的薄膜應(yīng)力和基片曲率關(guān)系式:δf=Eshs2/6(1-vs)R。δf是薄膜應(yīng)力值;Es是金屬薄片的基片彈性模數(shù);hs是金屬薄片基片的厚度;R為彎曲薄片的曲率半徑。在薄膜應(yīng)力的研究過程中,應(yīng)力現(xiàn)象比較復(fù)雜,沒有物理模型能夠準(zhǔn)確描述出應(yīng)力現(xiàn)象

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